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自動沖擊缺口測量儀與沖擊投影儀的使用對比
來源: | 作者:simai | 發(fā)布時間: 248天前 | 1365 次瀏覽 | 分享到:
沖擊試驗對于沖擊試樣缺口要求嚴格,缺口的微小變化,都會引起試驗結(jié)果出現(xiàn)誤差,為保證加工出的沖擊試樣缺口合格,缺口的加工質(zhì)量檢驗是一個重要的控制手段。目前沖擊缺口測量的有兩種方式,第一種是傳統(tǒng)的投影儀比對;第二種,是全自動沖擊缺口測量儀,準確測量缺口尺寸。

自動沖擊缺口測量儀與沖擊投影儀的使用對比

赫鵬   深圳思邁科技技術(shù)有限公司

沖擊試驗對于沖擊試樣缺口要求嚴格,缺口的微小變化,都會引起試驗結(jié)果出現(xiàn)誤差,為保證加工出的沖擊試樣缺口合格,缺口的加工質(zhì)量檢驗是一個重要的控制手段。目前沖擊缺口測量的有兩種方式,第一種是傳統(tǒng)的投影儀比對;第二種,是全自動沖擊缺口測量儀,準確測量缺口尺寸。

概述

隨著國內(nèi)工業(yè)技術(shù)的發(fā)展,越來越多的行業(yè)已經(jīng)開始執(zhí)行夏比沖擊VU型缺口沖擊試驗方法, 日前國內(nèi)很多行業(yè)如(航空航天、船舶、鍋爐壓力容器、冶金和機械)等行業(yè)已普遍s使用夏比沖擊試驗。根據(jù)目前國內(nèi)廣大用戶的實際需求和國標GB/T229-2007《金屬材料夏比擺錘試驗方法》ASTM E23中要求沖擊試樣缺口的要求而開發(fā)、開發(fā)的一種專用于檢查夏比沖擊VU型沖擊試樣缺口加工質(zhì)量的專用光學儀器,是航空航天、船舶、鍋爐壓力容器、冶金和機械等部門理化實驗室的必備專用設備。滿足所有種類沖擊試樣缺口的的檢測。

對于夏比沖擊V型缺口沖擊試驗,由于試樣V型缺口要求嚴格(GB/T229-2007試樣缺口深2mm±0.075、45°角±2°且試樣缺口尖端要求R0.25±0.025mm)(ASTM E23試樣缺口深2mm±0.02545°角±1°且試樣缺口尖端要求R0.25±0.025mm),故在整個試驗過程中,試樣的V型缺口加工是否合格成了關(guān)鍵問題,如果試樣缺口的加工質(zhì)量不合格,那么其試驗的結(jié)果是不可信的,特別是R0.25mm缺口尖端的微小變化(其公差帶只有0.025mm),都會引起試驗結(jié)果的偏差,尤其是在試驗的臨界值時會引起產(chǎn)品報廢或合格兩種截然相反的結(jié)果。為保證加工出的夏比沖擊V型缺口合格,其缺口的加工質(zhì)量檢驗是一個重要的質(zhì)量控制手段。用光學測量檢查是切實可行并能保證檢查質(zhì)量的方法。TOP-IG是我公司根據(jù)GB/229-2007《金屬材料夏比缺口沖擊試驗方法》、ASTM E23中沖擊試樣缺口的要求與廣大用戶的實際需求而設計、開發(fā)的一種專用于檢查夏比沖擊V型和U型試樣缺口加工尺寸的專用光學測量儀器。

原理

第一種:傳統(tǒng)的沖擊缺口投影儀,主要通過將被測試樣缺口投影到帶有模板刻度的屏上,然后調(diào)整被測試樣高度、左右等與帶有刻度的模板進行對比,判定沖擊缺口尺寸是否合格。

第二種,全自動沖擊缺口測量儀,主要通過專用的光學系統(tǒng),將被測試樣缺口,采集到電腦顯示器上,通過SMTMeasSystem_IG測量系統(tǒng),通過特用的像素解析技術(shù),以及專用的光學系統(tǒng),將被測試樣缺口清晰輪廓顯示到顯示器上,再通過特有的技術(shù)自動捕捉輪廓,自動測量缺口尺寸。試樣擺放需刻意擺放試樣,只要將缺口放置視頻區(qū)范圍內(nèi)就可以。缺口測量只需兩部完成,擺放試樣——測量缺口。一切測量、捕捉都是系統(tǒng)自動完成,1個人測量結(jié)果和100個測量結(jié)果一樣。實現(xiàn)無人為因素影像。

產(chǎn)品優(yōu)點與缺點

第一種傳統(tǒng)沖擊缺口投影儀,主要的優(yōu)點是價格是便宜,缺點是測量結(jié)果受人為影像很大,無法直接測量準確數(shù)據(jù),測量數(shù)據(jù)無法保存,日后無法進行核查。不滿足實驗室認證要求(CMASNAS

第二種,全自動沖擊缺口測量儀,缺點就是價格相對比較高,優(yōu)點,測量完全不受人為因素影響,測量精度高(0.001mm),測量數(shù)據(jù)可EXCEL、jpg等格式保存,日后核查或仲裁都可以進行復查測量。

同時滿足國標、美標尺寸要求,可根據(jù)標準要求自動判定時候合格。

適用行業(yè)

沖擊缺口測量分析儀適用于廣大冶金、航空航天、兵器、船舶、壓力容器、和工程機械制及科研等部門理化實驗室的必備專用設備。

該儀器還可用于機械零部件的外形輪廓、角度、半徑、長度、紡織物纖維、生物切片分析、工量刃具的檢驗、儀表元件和半導體元件的測量檢測。滿足標準GB/T 229-2007 ASTM E23-2002a等技術(shù)要求。

技術(shù)參數(shù)

沖擊試樣缺口投影儀

自動試樣缺口測量儀

1、 放大倍數(shù):50倍;

放大倍數(shù):50~80倍;

2、 視場范圍:20mm

視場范圍:4.2×2.8mm;

3 工作臺尺寸:方工作臺:300×200mm

光源范圍:50×50mm

4、 測量方法:與模板對比測量

測量方法:尺寸自動測量,自動判定

5、測量精度:與測量人相關(guān)

測量精度:分辨率:0.001mm

6、 光源:鹵素燈

光源:采用平面面光(LED)

7、 電源:220V/10W

電源:220V/35W;